學(xué)院：材料與環(huán)境工程學(xué)院
加試科目：材料分析測(cè)試技術(shù)
第一章 材料結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)
1.2晶體結(jié)構(gòu)
1.3 固體的能帶理論
第二章 X射線衍射
2.1 X射線衍射方程
2.2電子對(duì)X射線的散射
2.3 原子對(duì)X射線的散射
2.4 晶胞對(duì)X射線的散射
2.5 晶體的衍射
2.6 X射線衍射儀的應(yīng)用
第三章 電子衍射分析及應(yīng)用
3.1 電子衍射基本公式
3.2電子衍射成像原理與衍射花樣特征
3.3 高能電子衍射原理與應(yīng)用
3.4 低能電子衍射與應(yīng)用
第四章 透射電子顯微鏡
4.1 透射電子顯微鏡的工作原理與結(jié)構(gòu)
4.2 透射電子顯微鏡的應(yīng)用
4.3 試樣制備
4.4 透射電子顯微鏡的應(yīng)用
第五章 掃描電子顯微鏡及電子探針技術(shù)
5.1 掃描電鏡的工作
5.2 掃描電鏡的結(jié)構(gòu)
5.3 掃描電鏡圖像及其襯度
5.4 二次電子像
5.5 背散射電子像
5.6 電子探針顯微分析(EDX)的原理及應(yīng)用
第六章 掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡
6.1 掃描隧道顯微鏡的基本原理
6.2 掃描隧道顯微鏡與掃描電子顯微鏡的區(qū)別
6.3 原子力顯微鏡的基本原理與應(yīng)用
6.4 原子力顯微鏡的基本原理
第七章. 紫外-可見(jiàn)光譜技術(shù)
7.1 紫外-可見(jiàn)光譜儀的基本原理。
7.2 紫外-可見(jiàn)光譜儀在材料分析測(cè)試中的應(yīng)用。
第八章. 熒光光譜技術(shù)
8.1材料的光致發(fā)光
8.2 熒光光譜的基本原理
8.2 熒光光譜在材料分析中的應(yīng)用
主要參考書(shū)：
廖曉玲，材料現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)，冶金工業(yè)出版社，ISBN: 9787502453350
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